利用光的干涉现象可高精度地检查物体表面的平整程度．如果表面是平的，干涉条纹互相平行，如果表面有凸出与凹下，则在凸出与凹下处的干涉条纹会扭曲，图中所示干涉条纹中与实际相符的是试题及答案-解答题-云返教育

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利用光的干涉现象可高精度地检查物体表面的平整程度．如果表面是平的，干涉条纹互相平行，如果表面有凸出与凹下，则在凸出与凹下处的干涉条纹会扭曲，图中所示干涉条纹中与实际相符的是

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薄膜干涉形成的条纹是膜的上下表面的发射光干涉产生的．当两反射光的路程差（即膜厚度的2倍）是半波长的偶数倍，出现明条纹，是半波长的奇数倍，出现暗条纹，可知薄膜干涉是等厚干涉，即明条纹处空气膜的厚度相同．

薄膜干涉是等厚干涉，即明条纹处空气膜的厚度相同．从弯曲的条纹可知，检查平面左边处的空气膜厚度与后面的空气膜厚度相同，知该处凹陷，B正确；
检查平面右边处的空气膜厚度与前面的空气膜厚度相同，知该处凸出，C正确；
故选BC．

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选修3-4 沪科版解答题高中物理

利用光的干涉现象可高精度地检查物体表面的平整程度．如果表面是平的，干涉条纹互相平行，如果表面有凸出与凹下，则在凸出与凹下处的干涉条纹会扭曲，图中所示干涉条纹中与实际相符的是试题及答案-解答题-云返教育

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光的双缝干涉现象和薄膜干涉现象相关试题